Gdansk Polytechnic Tender Result

Spektrometr fluorescencji rentgenowskiej do nieniszczącej analizy składu 1. Komora pomiarowa - w pełni obudowana komora pomiarowa z blokadą uniemożliwiającą wykonanie pomiaru bez jej zamknięcia, - napięcie lampy rentgenowskiej zmienne w zakresie 10-50kV w zależności od zadania pomiarowego, - moc maksymalna lampy nie mniejsza niż 50W - lampa rentgenowska chłodzona poprzez zanurzenie w oleju - zestaw co najmniej trzech automatycznie przełączanych kolimatorów - kolimator najmniejszy o średnicy między 0,15mm a 0,3 mm - kolimator największy o średnicy między 1.5mm a 3 mm - detektor półprzewodnikowy typu SDD o rozdzielczości nie mniejszej niż 140eV z chłodzeniem Peltiera, - ręczna, płynna regulacja odległości pomiarowej w zakresie co najmniej 0-20mm z automatyczną kompensacją zmiany odległości, - strefa pomiarowa zaznaczona na podglądzie z kamery ma być rzeczywistą strefą pomiarową. - możliwość pomiarów próbek o wymiarach nie mniejszych niż: szerokość: 300mm, długość: 300mm, wysokość: 90mm - możliwość pomiarów próbek o masie nie mniejszej niż 10kg 2. Komputer, oprogramowanie Rzeczywiście 32-bitowy program pod system Windows z helpem on-line, Polska wersja oprogramowania WinFTM Ver. 6, możliwość łatwego przełączenia na inne języki jak np. angielski, niemiecki, francuski, włoski, hiszpański, itd. Biblioteka widm referencyjnych pozwalająca na tworzenie nowych aplikacji na podstawie wzorców pierwiastków metalicznych od aluminium do uranu, Możliwość bez-wzorcowych pomiarów grubości powłok, składów stopów oraz kąpieli galwanicznych na podstawie dostarczonych definicji pomiarowych (zadań pomiarowych), Prosta kalibracja za pomocą zestawów kalibracyjnych („application kit”) składających się z: dyskietki z zadaniem pomiarowym oraz z wzorców kalibracyjnych, Możliwość tworzenia własnych kalibracji na podstawie własnych wzorców oraz możliwość dalszej, dowolnej rozbudowy krzywej kalibracyjnej o następne wzorce w dowolnym czasie podczas użytkowania zestawu pomiarowego. Możliwość pomiaru niezależnego od odległości głowicy pomiarowej od przedmiotu (DCM – Distance Controlled Method), Możliwość pomiarów aż do 24 elementów za jednym pomiarem Pomiar powłok od 1 do 24 warstw, Badanie składu stopów do 24 składników stopowych dla pierwiastków od Al (Z=13) do U (Z=92), Badanie składu kąpieli galwanicznych, Możliwość pomiarów składów stopów przez powłokę, Jednoczesny pomiar grubości powłok i badanie ich składu, Wyświetlenie obrazu przedmiotu badanego z możliwością jego powiększania oraz zoomu z zaznaczeniem strefy pomiarowej za pomocą linii nici pajęczej oraz jej wielkością, która zależna jest od odległości przedmiotu od głowicy pomiarowej, Możliwość zapamiętania obrazu, jego wydruku na drukarce lub umieszczenia w raporcie, Parametry statystyczne, karty SPC, funkcja prawdopodobieństwa, histogramy,