Institut Jo Ef Stefan Tender Result

Predmet javnega naročila je nakup in instalacija fokusiranega ionskega snopa s kolono vrstičnega elektronskega mikroskopa (FIB-SEM), ki omogoča jedkanje, nanostrukturiranje in druge in-situ preiskave vzorcev, ter izdelavo zelo tankih vzorcev za presevno elektronsko mikroskopijo. Navezujoča oprema je vrstični elektronski mikroskop z izvorom na poljsko emisijo za pregledovanje in pripravo vzorcev pred uporabo FIB-SEM.